PAVT 2005

Session 1: „Flip-Chip-Technik“
Chairman: U. Fischer-Hirchert
  • Flip-Chip-Technik geeigneter Uebergang von Microstripline zu Coplanar Waveguide fuer 160 GBit/s-Verbindungen; Th. Rosin, Fraunhofer HHI, Berlin
  • Untersuchung zum Thermokompressions Flip-Chip-Bonden mittels galvanischer Goldkontakte; M. Klein, Fraunhofer IZM, Berlin
  • Optisches Board zum hybriden Aufbau von aktiven Komponenten im SOI; T. Mitze, TU Berlin
  • Präzisionsmontage durch Selbstjustage und Anschlaege; M. Hutter, Fraunhofer IZM, Berlin
  • Ultra High Brightness LED unter dem Aspekt der Erwärmung und farbgetreuen Wellenlängenkonvertierung; R. Jordan, Fraunhofer IZM, Berlin
Session 2: „Mikrooptische Komponenten und Systeme“
Chairman: L. Melchior
  • Multi mode fibers with integrated optical mode field adaptors; U. Fischer-Hirchert, Hochschule Harz, Wernigerode
  • Zweidimensionale Faserfelder fuer die optische Kopplung von Schaltkreisen und Boards; L. Hoppe, Friedrich-Schiller-Universitaet, Jena
  • Automatisierte Justage und Montage von mikrooptischen Singlemode-Faserschaltern; G. Lehmann, FiSpect GbR, Petershausen
  • Optischer Mehrfach-Fasersteckverbinder fuer Singlemode-Anwendungen; M. Strasser, Huber+Suhner AG, Herisau, Schweiz
  • Beruehrungslose Justierung mikrooptischer und faseroptischer Komponenten mittels Laserstrahlung; M. Zimmermann, Bayrisches Laserzentrum gGmbH, Erlangen
Session 3: „Elektrooptische Leiterplatte“
Chairman: H. Schroeder
  • Leiterplatten mit innenliegender Optolage-Wellenleitertechnologie und Koppelkonzept; J. Bauer, Fraunhofer IZM, Berlin
  • Daempfungsmessungen an integrierten optischen Wellenleitern; R. Rieske, TU Dresden
Session 4: „Automatisierte Aufbautechnik“
Chairman: Th. Vahrenkamp
  • Photonische Baugruppen im Bereich Test- und Messtechnik; E. Mueller, Agilent, Boeblingen
  • Optische Mikrosysteme: Flexible Montage durch adaptiven Automatisierungsgrad; R.B. Gentemann, Universitaet Dortmund
  • Kraftabhaengiges Greifen im Bereich der Automatisierungstechnik und Robotik mittels
  • eines neuartigen POF-Sensors auf Basis eines evaneszenten Feldes; G. Kodl, Leoni AG, Nürnberg